NH-4Ns 8吋樣品自動輪廓掃描量測儀
廠牌 : 三鷹光器
日本三鷹光器公司生產非接觸式點雷射聚焦表面輪廓量測儀NH-4Ns,除了輪廓量測功能外還可以量測影像尺寸量測,屬於表面幾何輪廓,平面度、粗糙度、非球面、影像量測複合機,可應用於8吋以下樣品之全域面積掃描,及擴充自動化量測。
產品說明
採用點雷射自動聚焦方式(符合ISO25178-605 Point Autofocus Probe量測原理),雷射聚焦樣品表面掃描,當使用x100物鏡聚焦樣品表面時雷射光點尺寸(Spot size)φ1um,可量測微結構表面形貌。
NH-4Ns 適合8寸以下樣品掃描式表面輪廓儀,多種倍率量測物鏡選擇及電動鼻輪切換倍率,可拍照記錄量測位置,方便觀察並標示出量測位置是否有缺陷。
量程X/Y/Z為250/200/10mm且三軸都用光學尺解析,樣品放置空間X/Y/Z為250/200/100mm,適合12KgW以下載重各種樣品量測需求。獨特AF功能可偵測樣品球心、邊際、圓徑、溝寬。MACRO量測軟體達到自動化量測需求。
NH-4Ns選購影像分析軟體MitakaImager執行影像自動量測分析。影像自動量測功能如線寬自動量測,圓徑自動量測。影像自動分析功能如粒子分析,圖型自動辨識(Alingment Mark Matching)。
特色
- 適合量測材料:鑽石、透明、液態膠狀、石墨黑、陶瓷白…等表面輪廓
- 一次量測樣品同時解析幾何輪廓與表面粗度數據
- 適合量測工件:HUD、Free Form Lens、Fresnel Lens、Micro Lens Array
- 標準分析軟體:2D/3D輪廓及粗度分析、平面度分析
- 選購分析軟體:批次分析、2D/3D CAD比對軟體、非球面評價軟體
- 數據重現性佳
- 量測軟體及控製硬體可依客戶需求提出解決方案
規格
X軸 | Y軸 | AF(Z1)軸 (量測用) |
Z2軸 (定位用) |
||
量測距離 | 250mm | 200mm | 10mm | 100mm | |
定位分辨率 | 0.1µm | 0.1µm | 0.01µm | 0.1µm | |
尺 | 光學尺 | 光學尺 | 光學尺 | 脈衝 | |
精度 | (2+4L/1000) µm | (2+4L/1000) µm | (0.3+0.5L/10) µm | (3+L/10) µm | |
顯微鏡光學系統 | 光學系統 | 無限遠聚焦光學 f = 100mm | |||
雷射聚焦尺寸(Spot) | Ø 1µm(100X NA=0.8 WD=3.4mm)、 Ø 2µm(50X NA=0.5 WD=10.6mm)、 Ø 4µm(20X NA=0.4 WD=12mm)、 Ø 15µm(10X NA=0.3 WD=11mm) |
||||
鼻輪 | 馬達控制 | ||||
自動對焦 | 重現性 | σ=0.03µm(鏡面(樣品)表面) 使用100X | |||
雷射規格 | 半導體雷射(O/P: 1mW Max λ : 635nm class 2) | ||||
載物台 | XY平台尺寸 | 364x244mm | |||
最大樣品高度 | 105mm | ||||
最大樣品重量 | 12kg | ||||
其他 | 儀器尺寸 | 1660x970x1400 mm | |||
避震器 | 氣浮式(空氣壓力:5kgf/cm2) | ||||
儀器重量 | 250kg | ||||
消費電力 | 700W (100V 7A) | ||||
AF軸(選購) | 15mm、20mm | ||||
Z2軸(選購) | 光學尺精度 (2+3L/100) um |
鑽石碟植鑽檢查
晶圓研磨用鑽石碟的鑽石排列方式,有用亂數排列也有用設計參數排列植鑽,鑽石本身硬度極高,非常適合做為切削材料,本案例說明是使用三鷹光器NH-4N量測儀器讀取設計式CAD檔案所導出的座標,軟體再用CAD檔案座標逐一比對每顆鑽石植鑽位置,數據表現方法可用MAPPING圖示表示,也可計算每個植鑽之鑽石高度。
上圖左1: 植鑽CAD 檔 上圖左2: AF聚焦在鑽石表面 上圖左3: 鑽石掉鑽圖 上圖左4: 鑽石碟每顆鑽石高點分佈
產品說明
採用點雷射自動聚焦方式(符合ISO25178-605 Point Autofocus Probe量測原理),雷射聚焦樣品表面掃描,當使用x100物鏡聚焦樣品表面時雷射光點尺寸(Spot size)φ1um,可量測微結構表面形貌。
NH-4Ns 適合8寸以下樣品掃描式表面輪廓儀,多種倍率量測物鏡選擇及電動鼻輪切換倍率,可拍照記錄量測位置,方便觀察並標示出量測位置是否有缺陷。
量程X/Y/Z為250/200/10mm且三軸都用光學尺解析,樣品放置空間X/Y/Z為250/200/100mm,適合12KgW以下載重各種樣品量測需求。獨特AF功能可偵測樣品球心、邊際、圓徑、溝寬。MACRO量測軟體達到自動化量測需求。
NH-4Ns選購影像分析軟體MitakaImager執行影像自動量測分析。影像自動量測功能如線寬自動量測,圓徑自動量測。影像自動分析功能如粒子分析,圖型自動辨識(Alingment Mark Matching)。
特色
- 適合量測材料:鑽石、透明、液態膠狀、石墨黑、陶瓷白…等表面輪廓
- 一次量測樣品同時解析幾何輪廓與表面粗度數據
- 適合量測工件:HUD、Free Form Lens、Fresnel Lens、Micro Lens Array
- 標準分析軟體:2D/3D輪廓及粗度分析、平面度分析
- 選購分析軟體:批次分析、2D/3D CAD比對軟體、非球面評價軟體
- 數據重現性佳
- 量測軟體及控製硬體可依客戶需求提出解決方案
規格
X軸 | Y軸 | AF(Z1)軸 (量測用) |
Z2軸 (定位用) |
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量測距離 | 250mm | 200mm | 10mm | 100mm | |
定位分辨率 | 0.1µm | 0.1µm | 0.01µm | 0.1µm | |
尺 | 光學尺 | 光學尺 | 光學尺 | 脈衝 | |
精度 | (2+4L/1000) µm | (2+4L/1000) µm | (0.3+0.5L/10) µm | (3+L/10) µm | |
顯微鏡光學系統 | 光學系統 | 無限遠聚焦光學 f = 100mm | |||
雷射聚焦尺寸(Spot) | Ø 1µm(100X NA=0.8 WD=3.4mm)、 Ø 2µm(50X NA=0.5 WD=10.6mm)、 Ø 4µm(20X NA=0.4 WD=12mm)、 Ø 15µm(10X NA=0.3 WD=11mm) |
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鼻輪 | 馬達控制 | ||||
自動對焦 | 重現性 | σ=0.03µm(鏡面(樣品)表面) 使用100X | |||
雷射規格 | 半導體雷射(O/P: 1mW Max λ : 635nm class 2) | ||||
載物台 | XY平台尺寸 | 364x244mm | |||
最大樣品高度 | 105mm | ||||
最大樣品重量 | 12kg | ||||
其他 | 儀器尺寸 | 1660x970x1400 mm | |||
避震器 | 氣浮式(空氣壓力:5kgf/cm2) | ||||
儀器重量 | 250kg | ||||
消費電力 | 700W (100V 7A) | ||||
AF軸(選購) | 15mm、20mm | ||||
Z2軸(選購) | 光學尺精度 (2+3L/100) um |