矽光子波導量測機

入射側的光學系統·載台選擇
·小型通用光照射·光接收測量光學系統M-Scope型J
·偏振依賴型對策型光照射·受光測量光學系統M-Scope型J / PF
·用於光學系統位置調整的電動或手動XYZ軸定位台
 
出射側光學系統·載台選擇
·小型通用光照射·光接收測量光學系統M-Scope型J
·偏振依賴型對策型光照射·受光測量光學系統M-Scope型J / PF
·用於光學系統位置調整的電動或手動XYZ軸定位台
 
樣品載台
·電動或手動XYZ軸平台用於樣品位置調整
·樣品座
 
檢測器
·從可視光 - 1100 nm:高精度數字CCD檢測器ISA 011
·950 - 1700 nm:InGaAs高靈敏度近紅外探測器ISA 041系列

系統控制/數據處理單元
·數據處理裝置體,檢測器驅動器,系統控制·數據處理
量測軟體
SYNOS公司製造的通用光照射和光接收測量用光學系統M-Scope型J。
·配有核心端面同軸觀察CCD。在直接觀察物體的同時,可以容易地接收測量光的入射/出射光。
·偏振依賴對策採用光纖端口。取消偏振光的影響。
·可以交換和選擇物鏡。它可以選擇紅外(NIR),高分辨率物鏡(HR),高倍率鏡頭(最多100次)等。
 
核心端觀察的最大光學倍率為100倍
·核心端面的觀察放大倍數可以選擇100倍。支持矽光子波導·單模波導等精細測量。
 
光纖對準方法和共軛條件下的插入損耗測量
·入射側以1:1照射與光纖端口連接的光纖的纖芯直徑的試樣表面。
·在出口側,連接到光纖端口的光纖的芯徑等效直徑以1:1從樣品表面傳遞到光纖。
·由於光纖對準方法和共軛條件,可以使用各種類型和芯徑的光纖。
 
除了使用光纖進行光功率測量外,還可以結合光譜分析儀和光譜儀進行波長測量
專用圖像處理·準備自動校準軟件。結合電動定位,通過圖像處理自動測量高速和高重現性。自動對準是可能的。可以對應大規模生產檢查。
 
通過選擇光電探測器可用於從可見光區域到近紅外區域的測量
·可見光 - 1100 nm:高精度數字CCD檢測器ISA 011,干涉條紋對策數字CCD檢測器ISA 031等均適用。
·950-1700 nm:InGaAs高靈敏度近紅外探測器ISA 041系列